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SWD / JTAG · HSS / RTT 双模式 · 2D / 3D 实时示波 · 组态画布 · CSV 数据回放

基于 SWD/JTAG 的 MCU 变量实时采样示波工具

HSS 模式(非侵入式异步后台高速访问)和 RTT 模式(侵入式同步高速访问)双模式支持,实时将波形和数据可视化到用户界面。 原理类似 J-Scope / STM Studio / STM32CubeMonitor,但更快、更稳、更强大。

11倍ELF 符号解析速度(对比 J-Scope)
2.1 MB/sJ-Trace PRO V2 RTT 模式实测采样率
9+UNI 版支持的调试器生态

产品预览

直观的数据可视化界面,支持 2D/3D 实时示波

三大套件,覆盖全场景

每个套件均提供免费的 Standard 标准版与功能更加丰富、强大的 Pro 专业版

HSS
Std 免费Pro 付费
HSS_DataVisualizer
High-Speed-Sampling · 超高速

SEGGER J-Link / J-Trace 专版优化,充分释放高端探针的极限采样性能

支持调试器:J-Link / J-Trace

J-Trace Cortex-M PRO V2 RTT 模式实测 2.1 MB/s

UNI
Std 免费Pro 付费
UNI_DataVisualizer
Universal · 通用

广泛支持市面主流调试器,一套工具覆盖几乎所有 ARM 内核、部分 RISC-V、Xtensa 开发场景

支持调试器:DAP-Link / ST-Link V2·V3 / J-Link / Black Magic / FTDI(Olimex ARM-USB 系列调试器) / WCH-Link / CH347usbjtag / Glasgow Interface Explorer

9+ 种调试器生态广泛兼容

DSS
Std 免费Pro 付费
DSS_DataVisualizer
TI 芯片及与之对应的国产替代芯片(例如进芯 ADP32F035)专用

面向 Texas Instruments 芯片生态的非侵入式数据可视化实时示波工具

支持调试器:XDS100v3 / XDS110 / XDS560v2 Plus 等调试器(理论上 CCS IDE 可支持,则该软件也能支持)

支持 TI TMS320 DSP / MSP430 及国产替代芯片

为什么选择该系列套件

HSS 模式 - 非侵入式后台采样

通过 SWD / JTAG 直接访问 MCU RAM 中的全局变量,无需修改目标芯片代码、不占用运行时资源

11 倍符号解析速度

ELF/AXF/OUT 调试信息解析比 J-Scope 快 11 倍(使用同一个大型 ELF 文件测试解析速度,本系列套件耗时 4 秒即完成解析,J-Scope 则耗时 44 秒),支持开发语言为 C / C++ / Rust 的目标芯片程序编译所生成的符号文件、支持 ARMCC / ARMCLANG / IAR / GCC / clang LLVM rustc 等工具链

RTT 模式 - 丢包特殊处理

低端 J-Link 高频采样丢包时整包丢弃并填充,避免 J-Scope 式的极值毛刺与波形错乱

CSV 实时落盘

采样数据边采边写盘,无需停止采样即可导出,支持自定义导出路径与自动按行数分割文件并编号(Pro 版限定)

CSV 数据回放

实录 CSV 离线回放:0.5~16 倍速、进度滑块 seek 与历史回填、间隙压缩,流式惰性解析支持 GB 级大文件,回放模式下可单独编排一套“回放专属组态仪表盘界面”,回放配置文件(*.HSSReplayProj)随同名 .csv 文件在不同电脑上导入软件后即可快速重建回放界面(CSV 数据回放功能仅 Pro 版本支持,本功能可在不激活的情况下免费使用)

2D / 3D 实时示波

单图 / 多图模式、滚动 / 扫描模式、X/Y 游标测量、3D 示波图与 3D 图形,主题随心切换

组态画布 - 自定义监控界面

仪表盘、LED、数值显示器、进度条、计量条等输出控件实时显示变量值,开关、按钮、滑块输入控件可直接写入 MCU,设计 / 运行双模式自由组态(Pro 版限定)

变量公式计算、在线改值

支持 JavaScript Math 表达式的变量公式计算、滑动平均、别名与在线修改变量值

现在开始使用

标准版永久免费
专业版需购买在线密钥